Formation J’EXCEL-8 CPE Lyon | Les rayons X dans le monde des sciences analytiques

• Post by: Philippe GIRARDON
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8ème Journée de l’EXpertise ChimiquE à Lyon

En Partenariat avec :

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PUBLIC CONCERNE :

1. Personnels des laboratoires d’analyse chargés du :
   1. Contrôle des matières premières
   2. Contrôle des produits finis
2. Toute personne confrontée à l’analyse en général

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DOMAINES CONCERNES :

1. Environnement
2. Géologie
3. Médicaments-santé-cosmétique
4. Produits Chimiques et Pétroliers
5. Produits Manuels
6. Produits Alimentaires
7. Produits Manufacturés
8. Micro-Electronique

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OBJECTIFS :

• Présenter les différents usages des rayons X dans les techniques d’analyse dans des domaines aussi variés que l’analyse compositionnelle et/ou de structure
• Investiguer les différents types d’interaction rayons-matières et les effets provoqués par les faisceaux de rayons X au travers de divers matériaux
• Illustrer la diversité des informations pouvant être obtenues à partir des interactions observées
• Montrer l’importance et la diversité de cette source de rayonnements dans divers domaines

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COMITE D’ORGANISATION ET D’EXPERTS :

Bernard CAPELLE	Sorbonne Université
Charles Philippe LIENEMANN	IFPEN (Délégué ARA SECF)
Claude MORDINI	SECF
Jean-Paul QUISEFIT	ADISCA Paris
Richard ROUX	CPE Lyon
Valérie THORAVAL	CPE Formation Lyon

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PROGRAMME :

MARDI 28 JANVIER 2020 à Lyon

08h30  Accueil des participants par

• Jean-Pierre DAL PONT (Président de la SECF)
• Gérard PIGNAULT (Directeur de CPE Lyon)     

09h00  Histoire des inventions ayant abouti à la spectrométrie de fluorescence   X : de 1650 à nos jours

• J.-P. QUISEFIT (ADISCA Paris)

09h45  Règlementation des activités nucléaires mettant en jeu des appareils   électriques émettant des rayons X

• A. CHABARDES (Sûreté Nucléaire et Radioprotection de l’IN2P3 – CNRS)

10h15  Différentes approches d’analyse en FX et les pièges à éviter

•   C.-P. LIENEMANN (IFPEN)

10h45  Pause – Visite des stands

11h15  La XRF Portable –  Applications et Performances

• F. DUMONT (Physitek-Fondis)

11h45  Microanalyse par FX en microscopie électronique

• N. MENGUY (IMPMC – Sorbonne Université)  

12h15  Déjeuner

  Café – Visite des stands

13h30  Imagerie multi-échelle 2D/3D par fluorescence X sur la ligne   NANOSCOPIUM du Synchrotron SOLEIL  

• K. MEDJOUBI (SOLEIL)

14h00  La diffraction des rayons et ses applications

• E. JEANNEAU (Centre de diffractométrie Henri Longchambon)

14h30  Les défis liés à la caractérisation par rayons X de faibles quantités de   matière

• S. NOWAK (Université de Paris)

15h00  Pause – Visite des stands

15h30  Etudes structurales en conditions atypiques par DRX  

• B. BAPTISTE (IMPMC – Sorbonne Université)

16h00  Associer tomographie, FX et DRX pour caractériser des matériaux   hétérogènes : exemples dans le domaine des matériaux du patrimoine

• P. MARTINETTO  (NEEL)

 16h30  Clôture du colloque en présence des intervenants de la journée

 17h00

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INFORMATIONS PRATIQUES :

LIEU :   CPE LYON – Domaine Scientifique de la Doua – Bâtiment Hubert Curien
  43, boulevard du 11 Novembre 1918 – 69100 Villeurbanne

DATE  :   28 janvier 2020 de 8h30 – 17h00

FRAIS D’INSCRIPTION :

O Industriel          300 € HT (360 € TTC) – 10% si inscription avant le 30/11/2019

O Industriel adhérent SECF         250 € HT (300 € TTC) – 10% si inscription avant le 30/11/2019

O Universitaire         160 € HT (192 € TTC) – 10% si inscription avant le 30/11/2019

O Universitaire adhérent SECF            130 € HT (156 € TTC) – 10% si inscription avant le 30/11/2019

O Stand d’exposition (inclus 1 inscription et la 2nde ½ tarif) :   500 € HT (600 € TTC)

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BULLETIN D’INSCRIPTION