Formation J’EXCEL-8 CPE Lyon | Les rayons X dans le monde des sciences analytiques
- Post by: Philippe GIRARDON
- 14:00
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8ème Journée de l’EXpertise ChimiquE à Lyon
En Partenariat avec :
La Société des Experts Chimistes de France (SECF) 
CPE-Lyon
PUBLIC CONCERNE :
- Personnels des laboratoires d’analyse chargés du :
- Contrôle des matières premières
- Contrôle des produits finis
- Toute personne confrontée à l’analyse en général
DOMAINES CONCERNES :
- Environnement
- Géologie
- Médicaments-santé-cosmétique
- Produits Chimiques et Pétroliers
- Produits Manuels
- Produits Alimentaires
- Produits Manufacturés
- Micro-Electronique
OBJECTIFS :
- Présenter les différents usages des rayons X dans les techniques d’analyse dans des domaines aussi variés que l’analyse compositionnelle et/ou de structure
- Investiguer les différents types d’interaction rayons-matières et les effets provoqués par les faisceaux de rayons X au travers de divers matériaux
- Illustrer la diversité des informations pouvant être obtenues à partir des interactions observées
- Montrer l’importance et la diversité de cette source de rayonnements dans divers domaines
COMITE D’ORGANISATION ET D’EXPERTS :
| Bernard CAPELLE | Sorbonne Université |
| Charles Philippe LIENEMANN | IFPEN (Délégué ARA SECF) |
| Claude MORDINI | SECF |
| Jean-Paul QUISEFIT | ADISCA Paris |
| Richard ROUX | CPE Lyon |
| Valérie THORAVAL | CPE Formation Lyon |
PROGRAMME :
MARDI 28 JANVIER 2020 à Lyon
08h30 Accueil des participants par
- Jean-Pierre DAL PONT (Président de la SECF)
- Gérard PIGNAULT (Directeur de CPE Lyon)
09h00 Histoire des inventions ayant abouti à la spectrométrie de fluorescence X : de 1650 à nos jours
- J.-P. QUISEFIT (ADISCA Paris)
09h45 Règlementation des activités nucléaires mettant en jeu des appareils électriques émettant des rayons X
- A. CHABARDES (Sûreté Nucléaire et Radioprotection de l’IN2P3 – CNRS)
10h15 Différentes approches d’analyse en FX et les pièges à éviter
- C.-P. LIENEMANN (IFPEN)
10h45 Pause – Visite des stands
11h15 La XRF Portable – Applications et Performances
- F. DUMONT (Physitek-Fondis)
11h45 Microanalyse par FX en microscopie électronique
- N. MENGUY (IMPMC – Sorbonne Université)
12h15 Déjeuner
Café – Visite des stands
13h30 Imagerie multi-échelle 2D/3D par fluorescence X sur la ligne NANOSCOPIUM du Synchrotron SOLEIL
- K. MEDJOUBI (SOLEIL)
14h00 La diffraction des rayons et ses applications
- E. JEANNEAU (Centre de diffractométrie Henri Longchambon)
14h30 Les défis liés à la caractérisation par rayons X de faibles quantités de matière
- S. NOWAK (Université de Paris)
15h00 Pause – Visite des stands
15h30 Etudes structurales en conditions atypiques par DRX
- B. BAPTISTE (IMPMC – Sorbonne Université)
16h00 Associer tomographie, FX et DRX pour caractériser des matériaux hétérogènes : exemples dans le domaine des matériaux du patrimoine
- P. MARTINETTO (NEEL)
16h30 Clôture du colloque en présence des intervenants de la journée
17h00
INFORMATIONS PRATIQUES :
LIEU : CPE LYON – Domaine Scientifique de la Doua – Bâtiment Hubert Curien
43, boulevard du 11 Novembre 1918 – 69100 Villeurbanne
DATE : 28 janvier 2020 de 8h30 – 17h00
FRAIS D’INSCRIPTION :
O Industriel 300 € HT (360 € TTC) – 10% si inscription avant le 30/11/2019
O Industriel adhérent SECF 250 € HT (300 € TTC) – 10% si inscription avant le 30/11/2019
O Universitaire 160 € HT (192 € TTC) – 10% si inscription avant le 30/11/2019
O Universitaire adhérent SECF 130 € HT (156 € TTC) – 10% si inscription avant le 30/11/2019
O Stand d’exposition (inclus 1 inscription et la 2nde ½ tarif) : 500 € HT (600 € TTC)
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