Formation J’EXCEL-8 CPE Lyon | Les rayons X dans le monde des sciences analytiques

Lieux emblématiques de Lyon, illustrant l'emplacement de la formation J'EXCEL-8 sur les rayons X et les sciences analytiques

Formation J’EXCEL-8 CPE Lyon | Les rayons X dans le monde des sciences analytiques

8ème Journée de l’EXpertise ChimiquE à Lyon

En Partenariat avec :


PUBLIC CONCERNE :

  1. Personnels des laboratoires d’analyse chargés du :
    1. Contrôle des matières premières
    2. Contrôle des produits finis
  2. Toute personne confrontée à l’analyse en général

DOMAINES CONCERNES :

  1. Environnement
  2. Géologie
  3. Médicaments-santé-cosmétique
  4. Produits Chimiques et Pétroliers
  5. Produits Manuels
  6. Produits Alimentaires
  7. Produits Manufacturés
  8. Micro-Electronique

OBJECTIFS :

  • Présenter les différents usages des rayons X dans les techniques d’analyse dans des domaines aussi variés que l’analyse compositionnelle et/ou de structure
  • Investiguer les différents types d’interaction rayons-matières et les effets provoqués par les faisceaux de rayons X au travers de divers matériaux
  • Illustrer la diversité des informations pouvant être obtenues à partir des interactions observées
  • Montrer l’importance et la diversité de cette source de rayonnements dans divers domaines

COMITE D’ORGANISATION ET D’EXPERTS :

Bernard CAPELLESorbonne Université
Charles Philippe LIENEMANNIFPEN (Délégué ARA SECF)
Claude MORDINISECF
Jean-Paul QUISEFITADISCA Paris
Richard ROUXCPE Lyon
Valérie THORAVAL CPE Formation Lyon

PROGRAMME :

MARDI 28 JANVIER 2020 à Lyon

08h30  Accueil des participants par

  • Jean-Pierre DAL PONT (Président de la SECF)
  • Gérard PIGNAULT (Directeur de CPE Lyon)     

09h00  Histoire des inventions ayant abouti à la spectrométrie de fluorescence   X : de 1650 à nos jours

  • J.-P. QUISEFIT (ADISCA Paris)

09h45  Règlementation des activités nucléaires mettant en jeu des appareils   électriques émettant des rayons X

  • A. CHABARDES (Sûreté Nucléaire et Radioprotection de l’IN2P3 – CNRS)

10h15  Différentes approches danalyse en FX et les pièges à éviter

  •   C.-P. LIENEMANN (IFPEN)

10h45  Pause – Visite des stands

11h15  La XRF Portable –  Applications et Performances

  • F. DUMONT (Physitek-Fondis)

11h45  Microanalyse par FX en microscopie électronique

  • N. MENGUY (IMPMC – Sorbonne Université)  

12h15  Déjeuner

  Café – Visite des stands

13h30  Imagerie multi-échelle 2D/3D par fluorescence X sur la ligne   NANOSCOPIUM du Synchrotron SOLEIL  

  • K. MEDJOUBI (SOLEIL)

14h00  La diffraction des rayons et ses applications

  • E. JEANNEAU (Centre de diffractométrie Henri Longchambon)

14h30  Les défis liés à la caractérisation par rayons X de faibles quantités de   matière

  • S. NOWAK (Université de Paris)

15h00  Pause – Visite des stands

15h30  Etudes structurales en conditions atypiques par DRX  

  • B. BAPTISTE (IMPMC – Sorbonne Université)

16h00  Associer tomographie, FX et DRX pour caractériser des matériaux   hétérogènes : exemples dans le domaine des matériaux du patrimoine

  • P. MARTINETTO  (NEEL)

 16h30  Clôture du colloque en présence des intervenants de la journée

 17h00


INFORMATIONS PRATIQUES :

LIEU :   CPE LYON – Domaine Scientifique de la Doua – Bâtiment Hubert Curien
  43, boulevard du 11 Novembre 1918 – 69100 Villeurbanne

DATE  :   28 janvier 2020 de 8h30 – 17h00

FRAIS D’INSCRIPTION :

O Industriel          300 € HT (360 € TTC) – 10% si inscription avant le 30/11/2019

O Industriel adhérent SECF         250 € HT (300 € TTC) – 10% si inscription avant le 30/11/2019

O Universitaire         160 € HT (192 € TTC) – 10% si inscription avant le 30/11/2019

O Universitaire adhérent SECF            130 € HT (156 € TTC) – 10% si inscription avant le 30/11/2019

O Stand d’exposition (inclus 1 inscription et la 2nde ½ tarif) :   500 € HT (600 € TTC)


BULLETIN D’INSCRIPTION